Open-Circuit와 Short-Circuit Test

이번 단위에서 연결한 내용

Open-circuit test는 낮은 전류에서 Core loss와 Magnetizing branch를 주로 드러내고, Short-circuit test는 낮은 인가전압으로 정격전류를 흘려 Winding resistance와 Leakage reactance를 추출한다. 두 시험의 계기 오차와 온도는 Parameter extraction 불확실성으로 이어진다.

개념 관계 정리

1. 무부하 시험
2. 단락 시험
3. Parameter extraction
4. 측정 오차

기술 앵커

무부하에서 R_c = V_oc^2/P_oc, I_w = P_oc/V_oc, X_m = V_oc/sqrt(I_oc^2-I_w^2)로 구하고, 단락에서 Z_eq = V_sc/I_sc와 R_eq = P_sc/I_sc^2를 이용한다.

다시 확인하는 방법

계기 범위와 기준 권선, 단상·3상 값의 구분을 기록하고 X_eq = sqrt(Z_eq^2-R_eq^2)가 실수가 되는지와 온도보정 필요성을 확인한다.

과목 전체와 연결하기

전체 12개 중 5번째 단위입니다. 단위 번호는 남은 보고서와 계산을 넓혀 읽는 순서이며 실제 출석 주차표가 아니다.